輻射騷擾是EMI測(cè)試的一個(gè)項(xiàng)目，主要是考核EUT產(chǎn)生的空間輻射會(huì)不會(huì)對(duì)其他的物品產(chǎn)生影響，因?yàn)?/span>EUT在工作時(shí)，由于CUP或者電機(jī)的工作會(huì)通過(guò)空間產(chǎn)生輻射，對(duì)其他物品的工作產(chǎn)生影響或者對(duì)人體產(chǎn)生影響，要進(jìn)行一個(gè)輻射騷擾的測(cè)試。

必須的設(shè)備包括：測(cè)試場(chǎng)地——電波暗室、接收機(jī)、天線(xiàn)、同軸電纜、轉(zhuǎn)臺(tái)及測(cè)試桌。

普通產(chǎn)品一共分為3類(lèi)：

一類(lèi)是信息技術(shù)類(lèi)和音視頻，所用的標(biāo)準(zhǔn)是EN55032；

二類(lèi)是家用電器類(lèi)，所用標(biāo)準(zhǔn)是EN55014；

三類(lèi)是燈具類(lèi)，所用標(biāo)準(zhǔn)是EN55015。

按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試，EUT離天線(xiàn)的距離是3米，臺(tái)式設(shè)備是放在0.8米的絕緣桌上，落地式設(shè)備室放置在0.15的絕緣木板上，在測(cè)試時(shí)，天線(xiàn)在對(duì)應(yīng) 的1米、2米、3米、4米高的地點(diǎn)，轉(zhuǎn)臺(tái)360度旋轉(zhuǎn)，尋找輻射的大值點(diǎn)，觀(guān)察它是否*過(guò)規(guī)定限值的范圍，天線(xiàn)的方向也對(duì)應(yīng)的是分為水平和垂直兩個(gè)方向。

根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)別的不同，測(cè)試頻率及限值也會(huì)有所差異，其中燈具類(lèi)的測(cè)試范圍是從30MHZ--300MHZ，其他普通產(chǎn)品的測(cè)試范圍是從30ＭＨZ---1000MHZ,所用的天線(xiàn)是雙錐周期對(duì)數(shù)天線(xiàn)，每次測(cè)試讀點(diǎn)必須讀取6個(gè)大值點(diǎn)，是通過(guò)QP來(lái)判定的。在接近限值的地方觀(guān)察必須經(jīng)過(guò)15秒。

輻射抗擾度（Radiate Susceptibility）：又稱(chēng)為輻射敏感度，是最基本的EMS測(cè)試項(xiàng)目之一，指各種裝置、設(shè)備或系統(tǒng)，在存在輻射的情況下，抵抗輻射的一種能力。敏感度越高，抗干擾的能力越低。測(cè)試抗擾度儀器最重要的就是信號(hào)發(fā)生器,功率放大器和發(fā)射天線(xiàn)三樣?xùn)|西。

IEC 61000-4-3/GB T 17626.3：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)用來(lái)模擬設(shè)備遭受射頻輻射干擾的情形，尤其是模擬設(shè)備周?chē)藛T在使用移動(dòng)電話(huà)時(shí)可能對(duì)設(shè)備帶來(lái)的影響。盡管單個(gè)手機(jī)的功率并不大，但由于距離近，有可能造成局部場(chǎng)強(qiáng)很高的情況。其他如無(wú)線(xiàn)電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機(jī)、各種工業(yè)電磁輻射源，以及電焊機(jī)、可控硅整流器、熒光燈等在工作時(shí)也會(huì)對(duì)設(shè)備產(chǎn)生輻射現(xiàn)象。最新標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的頻率范圍為80MHz - 6GHz；測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)在1 - 30V/m之間。

傳導(dǎo)騷擾是EMI測(cè)試的一個(gè)項(xiàng)目，傳導(dǎo)騷擾測(cè)試的是EUT在工作時(shí)產(chǎn)生的干擾信號(hào)，通過(guò)電源線(xiàn)或者信號(hào)線(xiàn)對(duì)其他的設(shè)備的正常工作產(chǎn)生影響，要進(jìn)行一個(gè)傳導(dǎo)騷擾的測(cè)試，必須的設(shè)備包括：測(cè)試場(chǎng)地——屏蔽室、接收機(jī)、同軸電纜、LISN，現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)室有2個(gè)LISN，LISN8127主要由于單項(xiàng)的EUT測(cè)試，LISN8128主要用于3相供電的EUT的測(cè)試。

普通產(chǎn)品一共分為3類(lèi)：

一類(lèi)是信息技術(shù)和音視頻類(lèi)，所用的標(biāo)準(zhǔn)是EN55032；

二類(lèi)是家用電器類(lèi)，所用標(biāo)準(zhǔn)是EN55014；

三類(lèi)是燈具類(lèi)，所用標(biāo)準(zhǔn)是EN55015；

四類(lèi)是音視頻類(lèi)。

按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試，EUT離LISN的距離是1米，離垂直接地面，即屏蔽室的豎直墻面的距離是0.4米，臺(tái)式設(shè)備是放在0.8米的絕緣桌上，落地式設(shè)備室放置在0.15的絕緣木板上，根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)別的不同，測(cè)試頻率及限值也會(huì)有所差異，其中燈具類(lèi)的測(cè)試頻率是從9KHZ—30MHZ，其他普通產(chǎn)品的測(cè)試頻率是從150KHZ—30MHZ，傳導(dǎo)騷擾測(cè)試場(chǎng)地包括以下幾種測(cè)試端口：1、電源端口，測(cè)試方法：使用LISN進(jìn)行測(cè)量。2. 負(fù)載端口/控制端口，測(cè)試方法：使用電壓探頭進(jìn)行測(cè)量，主要在EN55014-1及EN55015中有此項(xiàng)測(cè)試。3、通訊端口，測(cè)試方法：使用ISN進(jìn)行測(cè)量。

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類(lèi)靜電放電騷擾時(shí)的性能。

    靜電放電試驗(yàn)主要針對(duì)用戶(hù)可以實(shí)施的維護(hù)。正常使用中用戶(hù)可以接觸的區(qū)域，正常使用的位置，分為直接放電和接觸放電直接放電模擬了操作人員對(duì)受試設(shè)備直接接觸時(shí)發(fā)生的靜電放電情況。間接放電則是對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電，模擬了操作人員對(duì)放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體放電時(shí)的情況。其中接觸放電是根據(jù)產(chǎn)品選擇的試驗(yàn)方法，間接放電只有在不能使用接觸放電的場(chǎng)合中。

一般實(shí)驗(yàn)室的布置時(shí)這樣的，臺(tái)式設(shè)備放在離參考水平面0.8m高的桌子上，并用0.5mm的絕緣襯墊將受試設(shè)備和電纜與耦合板隔開(kāi)，受試設(shè)備與耦合板各邊的距離不小于0.1m,在試驗(yàn)過(guò)程中，在EUT上選取放電點(diǎn)，然后在確定在這一點(diǎn)是選擇接觸放電還是空氣放電，一般金屬外殼進(jìn)行接觸放電，絕緣外殼進(jìn)行空氣放電，有絕緣層的金屬外殼要刮破絕緣層進(jìn)行直接放電，每個(gè)放電點(diǎn)的放電次數(shù)不少于10次，每次間隔不小于1秒。

產(chǎn)品工作時(shí)可被接觸到的部分,如果溫度過(guò)高可能會(huì)造成人身傷害;而且設(shè)備內(nèi)部過(guò)高的溫度也會(huì)影響產(chǎn)品性能，甚至導(dǎo)致絕緣等級(jí)下降或者增加產(chǎn)品機(jī)械的不穩(wěn)定性。因此在產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中，溫升實(shí)驗(yàn)是保證產(chǎn)品能夠安全穩(wěn)定工作，需要考慮的一個(gè)重要步驟!

測(cè)溫升的方法按照測(cè)量溫度儀表的不同，可以分為非接觸式與接觸式兩大類(lèi)。

非接觸式測(cè)量法

能測(cè)得被測(cè)物體外部表現(xiàn)出來(lái)的溫度，需要通過(guò)對(duì)被測(cè)問(wèn)題表面發(fā)射率修正后才能得到真實(shí)溫度，而且測(cè)量方法受到被測(cè)物體與儀表之間的距離以及輻射通道上的水汽、煙霧、塵埃等其他介質(zhì)的影響，因此測(cè)量精度較低。日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測(cè)溫技術(shù)、全息干涉測(cè)溫技術(shù)、基于CCD的三基色測(cè)溫技術(shù)。

接觸式測(cè)量法

接觸式測(cè)溫儀溫度探頭一般有熱電偶和熱電阻兩種∶

熱電偶的工作原理是基于塞貝克( seeback效應(yīng)），兩種不同成分的導(dǎo)體兩端連接成回路，如兩連接端溫度不同，則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象，利用此現(xiàn)象來(lái)測(cè)量溫度。

熱電阻的測(cè)量原理是根據(jù)溫度變化時(shí)本身電阻也變化的特性來(lái)測(cè)量溫度。

接觸式的測(cè)試方法中測(cè)溫元件直接與被測(cè)介質(zhì)接觸，直接測(cè)得被測(cè)物體的溫度，因而簡(jiǎn)單、可靠、測(cè)量精度高。